RF/Wireless

ทำได้มากขึ้น ประหยัดมากขึ้นด้วย Tektronix 3 Series MDO สำหรับการแก้จุดบกพร่องของ RF/Wireless
ในระบบ Embedded ทั่วไปซึ่งรวมโมดูล RF/Wireless อยู่ด้วย   คุณจะได้รับสัญญาณอนาล็อก, ดิจิตอล, baseband และสัญญาณ RF    ในการดูสัญญาณและการวัดสัญญาณที่กล่าวมาในโดเมนของเวลาและโดเมนของความถี่ คุณต้องใช้ออสซิลโลสโคปและสเป็กตรัมอนาไลเซอร์     ออสซิลโลสโคปใช้วัดสัญญาณอนาล็อก, ดิจิตอล และ Baseband ตั้งแต่ DC ไปจนถึงไม่กี่ร้อยเมกกะเฮิรตซ์ หรือสูงถึงระดับกิกะเฮิรตซ์ ในขณะที่สเป็กตรัมอนาไลเซอร์ใช้ย่านตั้งแต่ 9 กิโลเฮิรตซ์ ไปจนถึงระบบกิกะเฮิรตซ์ เพื่อวัดและวัดสัญญาณ RF     การแก้ไขจุดบกพร่องในการออกแบบ RF/Wireless คุณต้องใช้ทั้งออสซิลโลสโคปและสเป็กตรัม
อนาไลเซอร์ 
 
ผู้ผลิตออสซิลโลสโคปบางรายเสนอฟังก์ชั่น FFT เพื่อแปลงรูปสัญญาณจากโดเมนของเวลาไปยังโดเมนของความถี่ อย่างไรก็ตามมีข้อบกพร่องหลายประการสำหรับการใช้ FFT เช่น ถ้าออสซิลโลสโคปมีแบนด์วิธด์ 500 MHz แล้วถ้าคุณวัดสัญญาณ RF 500 MHz จะถูกลดทอนไปแล้ว 3 dB ก่อนจะเข้าไป FFT ยิ่งไปกว่านั้น Resolution Bandwidth และ Span จะขึ้นอยู่กับการตั้งค่าโดเมนของเวลาบนออสซิลสโคป ทำให้การใช้งาน FFT เกิดความยุ่งยากเพื่อจะให้ได้สเป็กตรัมตามที่ต้องการ


เกี่ยวกับเรื่องนี้ Tektronix 3 Series MDO (Mixed Domain Oscilloscopes) มีสเป็กตรัมอนาไลเซอร์อยู่ในตัว โดยอินพุตของ RF แยกออกจากอินพุตของออสซิลโลสโคป ซึ่งคุณสามารถเพลิดเพลินไปกับสเป็กตรัมอนาไลเซอร์ในการควบคุม RBW, Span, Center Frequency และการเพิ่ม Markers รวมทั้งมีประสิทธิภาพสูงของ DANL และ Phase noise นอกจากนี้ในเครื่องมือเดียวกันนี้ คุณสามารถเพลิดเพลินไปกับการใช้ออสซิลโลสโคปที่มีฟังก์ชั่นเต็มอีกด้วย  Tektronix 3 Series MDO รวมเครื่องมือ 6 ชนิดไว้ในเครื่องเดียว คือ ออสซิลโลสโคป สเป็กตรัมอนาไลเซอร์ เครื่องวิเคราะห์ลอจิก เครื่องวิเคราะห์โปรโตคอล DMM และเครื่องนับความถี่  ช่วยให้คุณทำงานได้มากขึ้นด้วยค่าใช้จ่ายที่น้อยลง

แก้ไขปัญหาการออกแบบ Internet of Things, Wi-Fi และ Bluetooth ได้เร็วขึ้น
ในการแก้ไขปัญหาสาเหตุของความล้มเหลว และการปล่อย EMI ที่มากเกินไปในการออกแบบดิจิตอลไร้สาย ต้องอาศัยความสามารถในการวิเคราะห์เชิงลึกว่าเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นในวงจรดิจิตอลนั้นรบกวนและสัมพันธ์กับเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นในวงจร RF อย่างไร    ออสซิลโลสโคป MSO 4, 5 หรือ 6 Series มีความสามารถในการวัด RF ที่สัมพันธ์กับเวลา โดยใช้ฟังก์ชั่น “Spectrum View” ที่ไม่เคยมีมาก่อน สามารถช่วยวิศวกรหาสัญญาณที่ผิดปกติและและที่มาของสัญญาณรบกวน ที่เป็นสาเหตุทำให้ระบบล้มเหลวและไม่สามารถผ่านมาตรฐาน  EMI    ดูรายละเอียดเพิ่มเติม Spectrum View ช่วยคุณแก้ปัญหาในการออกแบบวงจรไร้สายเร็วขึ้นได้อย่างไร


อย่าปล่อยให้การปฏิบัติตามข้อกำหนดของ EMI/EMC ทำให้คุณช้าลง

คุณทราบหรือไม่ ว่าการทดสอบตามมาตรฐาน EMI/EMC ครั้งแรกจะไม่ผ่านกว่า 50%   Intertek Testing Services รายงานว่าประมาณครึ่งหนึ่งของผลิตภัณฑ์นั้นสอบตกในการทดสอบตามมาตรฐาน EMI/EMC ครั้งแรก    สาเหตุเกิดจากการขาดความรู้เกี่ยวกับหลักการ EMI/EMC  การใช้ข้อบังคับ EMC ไม่ถูกต้อง  ปฏิสัมพันธ์ของส่วนประกอบในวงจรที่คาดเดาไม่ถึง  หรือมีส่วนประกอบที่มีข้อบกพร่องในผลิตภัณฑ์
 
การทดสอบตามมาตรฐานเบื้องต้น (Pre-compliance testing)   ทำให้การทดสอบตามข้อกำหนด EMI ครั้งแรกมีโอกาสผ่านมากขึ้น  รวมถึงประหยัดเวลาและประหยัดค่าใช้จ่ายในการทดสอบได้มากมาย     บริษัทที่ออกแบบผลิตภัณฑ์ทางด้านทางการแพทย์ ยานยนต์ การทหาร และแม้แต่ทางด้านมัลติมิเดีย จะได้รับประโยชน์จากการลงทุนการติดตั้งชุดทดสอบก่อนการปฏิบัติตามข้อกำหนดไว้ในสถานปฏิบัติงาน ดาวน์โหลดเอกสารที่เกี่ยวข้องกับวิธีการเพิ่มการทดสอบก่อนการปฏิบัติตามข้อกำหนดในกระบวนการพัฒนาผลิตภัณฑ์ของคุณที่สามารถเร่งการพัฒนาผลิตภัณฑ์ให้เร็วขึ้น อีกทั้งลดต้นทุน และลดความเสี่ยง